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秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于：通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數據特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數字多道技術，采用超薄鈹窗有高激發效率的X射線管，使儀器計數率更高，穩定性更好，適用面更廣；
優化了光路結構、軟硬件性，真空腔體使之性能更好、更便攜；
獨特的抗震性設計，高保護光路設計使得該儀器通過了第三方機構高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；
在現場測試、在線檢測以及各類地質勘察多元素檢測中充分發揮作用。
